Determination of the Dielectric Constant and the Thickness of Polymer Thin Film Based on SPR Curve
Abstrak
The SPR curve fitting using the Winspall simulator to determine the dielectric constant and the thickness of MEH-PPV film is presented. Experiment was performed by measuring the SPR curve of gold layer and gold/MEH-PPV layers based on Kretschmann configuration. First, the dielectric constant and the thickness of gold film are determined by fitting the SPR curve. And then the dielectric constant and the thickness of MEH-PPV are determined by fitting its SPR curve. The thickness result calculation from curve fitting for MEH-PPV shows comparable to the result from SEM. This method makes Winspall program as a simple tool in analysis and calculation to determine dielectric constant and thickness, layer by layer in deposition.
Keywords:dielectric constant, MEH-PPV, SPR, Winspall, curve fitting, thickness
Diterbitkan
Cara Mengutip
Terbitan
Bagian
Penulis yang menerbitkan di Jurnal Otomasi Kontrol dan Instrumentasi menyetujui persyaratan berikut:
- Penulis mempertahankan hak cipta dan memberikan jurnal hak publikasi pertama dari karya secara bersamaan berlisensi di bawah Lisensi Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 yang memungkinkan pihak lain untuk berbagi karya dengan menyatakan pengakuan atas kepengarangan karya dan publikasi yang berasal dari jurnal ini
- Penulis dapat membuat pengaturan kontrak tambahan yang terpisah untuk distribusi non-eksklusif dari versi karya jurnal yang diterbitkan (misalnya, menyimpan ke repositori institusional atau menerbitkannya dalam sebuah buku) dengan menyatakan pengakuan terhadap publikasi yang berasal dari jurnal ini.